Расходные материалы. ИК-Фурье

Если вы планируете расширить свою  лабораторию и приобрести современный набор принадлежностей для ИК-Фурье спектрометра, то нелишним будет обратить внимание на набор принадлежностей для подобной спектроскопии.   К такому оборудованию относятся:

1.         Приставки НПВО;

2.         Приставки диффузного отражения;

3.         Приставки зеркального отражения;

4.         Поляризаторы;

5.         Интегрирующие сферы и оптоволоконные приставки;

6.         Наборы для ИК-спектроскопии;

7.         Принадлежности для микроспектроскопии;

8.         Наборы для ИК-спектроскопии пропускания;

9.         Специализированные приставки и др.

НПВО приставки сегодня с успехом вытесняют ячейки для пропускания, которые имеют постоянную длину оптического пути, и так же соляные пластины для полужидких и жидких образцов. Горизонтальная НПВО приставка может использоваться для анализа паст, пленок, тонких порошков или мягких образцов. Имеющие высокую жесткость твердые материалы требуют высокого давления для достаточного контакта.

Для этого рекомендуется приставка однократного отражения с однократным отражением, имеющая зажимы высокого давления. НПВО с высокопроизводительным оптическим путем, с присутствующим в некоторых приставках подогревом, наилучшим образом подходит для количественного и качественного анализа.

С помощью высокочувствительного метода диффузного отражения, возможно, произвести анализ твердых и порошкообразных образцов. Образцы перемалываются до состояния мелкого порошка, и регистрируется оптический спектр. Так же возможно исследование образцы без их разбавления. Эта способность особенно хорошо применяется для определения примесей. Для работы с большими количествами образцов рекомендуются автоматические высокоэффективные системы.

Для исследования тонкой пленки материала нанесенного на отражающую поверхность и для предотвращения разрушения анализа образцов, идеальным является метод зеркального отражения. Спектр такого отражения используется для идентификации образца, анализа монослоев, контроля качества материала. Поэтому необходимым будет использование различных приставок для зеркального отражения.

Весьма полезны для количественного и качественного анализа состава интегрирующие сферы.  Они эффективны в тех случаях, когда размер частицы, морфология, степень полировки и шероховатость поверхности от образца к образцу отличается. Для этих случаев предлагаются интегрированные приставки для средней и ближней области ИК спектра.

Придают ИК-спектрометру дополнительные степени гибкости оптоволоконные приставки. При этом расширяется возможность прибора путем выхода за пределы кюветного отделения. Регистрирующий зонд помещается в образец.